搜索结果: 1-12 共查到“知识库 光学工程 PC”相关记录12条 . 查询时间(0.046 秒)
为了在微流控芯片上形成封闭的微通道等功能单元,克服热压键合中微流控结构的塌陷和热压所致芯片微翘曲对后续键合的影响,提出了一种适用于硬质聚合物微流控芯片的黏接筋与溶剂协同辅助的键合方法。以聚碳酸酯(PC)微流控芯片为研究对象,通过热压法在PC微流控芯片上的微通道两侧制作凸起的黏接筋,通过化学溶剂丙酮微溶PC圆片的表面,然后将PC圆片与带有黏接筋的PC微流控芯片贴合、加压、加热,从而实现微流控芯片的键...
深圳市莱特威科技有限公司产品名称：FC-PC裸纤适配器（图）
深圳市 莱特威科技有限公司 产品名称 FC-PC裸纤适配器
2011/4/21
商品简介
适用范围单盘光纤测试,光缆抢修
产品主要特点
特点：多种接口（FC、SC、LC）高稳定性,使用方便,可重复使用.
- 裸光纤适配器是一种专业用于光纤大盘测试的辅助工具, 极适合于光纤的紧急抢修与临时接续 - 长度40MM\直径13MM
- 循环测试(-40-+80℃)变化＜0.5dB ,插入损耗：≤1dB 重复性： ≤0.2dB 使用频次：≥5000次
- 操作...
深圳市莱特威科技有限公司产品名称：SC-PC 裸纤适配器。
深圳市莱特威科技有限公司产品名称：LC-PC裸纤适配器（图）
深圳市 莱特威科技有限公司 产品名称 LC-PC裸纤适配器
2011/4/21
商品简介
适用范围单盘光纤测试,光缆抢修
产品主要特点
特点：多种接口（FC、SC、LC）高稳定性,使用方便,可重复使用.
- 裸光纤适配器是一种专业用于光纤大盘测试的辅助工具, 极适合于光纤的紧急抢修与临时接续 - 长度40MM\直径13MM
- 循环测试(-40-+80℃)变化＜0.5dB ,插入损耗：≤1dB 重复性： ≤0.2dB 使用频次：≥5000次
- 操作...
PC偏光光学镜片的IMD（模内注塑）工艺制造技术
偏光光学镜片 模内注塑 聚碳酸酯
2008/11/17
该项目创造性地将IMD技术应用到眼镜生产，IMD制程模式即薄膜射出成型，将偏光片置入射出模具内，射出成型时偏光片就内置于PC树脂中，在射出之后即为成品；同时在具体各环节工艺技术及主要关键技术上，包括压型、偏光膜冲压切型、注塑成型、表面强化等环节，该项目也进行了创新，并自主研发了热感结合剂。将IMD技术应用于PC偏光光学镜片的制造，目前国内未有采用射出成型法将偏振片内置于PC镜片内的制造方法，该制程...
Fc/Pc.SC.ST.FC/APC型光纤活动连接器
光纤活动连接器 光纤通信
2008/10/30
FC/PC.SC.ST.FC/APC型光纤活动连接器于1999年被认定为国家重点新产品，它是将光纤纤芯通过胶粘方式固定在陶瓷插针体内，对纤芯端面进行研磨抛光，通过对中套筒使两根光纤对接，构成光通路，可以重复拆卸，实现活动连接的连接器。其中FC/APC型光纤活动连接器可以满足超长距离超大容量通信及有线电视传输的信息量大、频带宽的要求，可与国外同类产品相媲美。该项目的实施，促使该厂制定了发展光纤产品的...
FC/PC型光纤活动连接器
活动连接器 光纤连接器
2008/10/28
该项目采用进口研磨机研磨插芯端面，抛光使用了进口研磨绒垫（上涂研磨液），保证了优良的光学指标，工艺采用内加紧加强层，外加紧PVC保护层的方案，使光纤免受损伤提高了产品可靠性。该研究成果达国内领先水平。
PC型光纤活动连接器
连接器 光纤
2008/10/28
该连接器在今后很多领域内将取代FC型连接器，特别是对超高速数字通信，宽带图象模拟传输，调幅视频系统及闭路环本地网等将起着重要作用。该器件设计合理，符合国际通用IEC--PC型光纤光缆连接器规范，可与不同厂家的FC型连接器互连使用。该连接器插针体采用精密外圆切削工艺，并研制出高精度对中光学系统，使对中精度达到＜0.5μm，并具有重复性，适合批量生产要求。插针体端面采用凸球面研磨工艺，保证了两插针端面...
激光辐照PC型HgCdTe探测器的实验研究
激光 PC型HgCdTe探测器 波段 饱和阈值
2008/3/7
摘要:分别用连续波1.319μm激光和10.6μm激光辐照PC型HgCdTe红外探测器时，得到了不同辐照光功率密度下，探测器输出的一系列实验结果。给出了在波长为1.319μm的波段内激光辐照下PC型HgCdTe探测器的饱和阈值；用波长为10.6μm的波段外CO2激光辐照探测器时，发现了一些与波段内激光辐照探测器时大不相同的实验现象；对实验结果进行了分析。简要总结了PC型HgCdTe探测器对于波段内...
摘要:提出了PC型半导体探测器对波段外激光辐照的热电子光电导响应机制。响应波段外激光辐照PC型半导体探测器时，探测器有响应且输出电压信号迅速增大，与波段内激光辐照时的响应规律截然不同，这是由光激发能带内热电子而引起的光电导现象。当较强功率的激光辐照时还应考虑热效应。依据该机制进行了模拟计算，计算结果表明当PC型HgCdTe探测器被波段外激光辐照时，热电子的产生使得电导率减小，进而导致探测器的电阻增...
摘要:对3.8μm激光破坏三元PC型HgCdTe探测器系统的实验结果进行定性分析。实验结果表明：当辐照在探测器系统上的激光功率密度达411W/cm2时，系统内各部件（Ge窗口、滤光片及探测器）已严重损坏，探测器系统永久失效。分析认为：实验中引起探测器系统破坏的主要原因是温度升高引起的烧蚀热。
摘要:通过用1.06μm连续波YAG激光对PC型HgCdTe探测器的辐照实验研究, 给出了激光对单元和多元PC型HgCdTe探测器的不同部位辐照的破坏阈值。对工作电流对破坏阈值的影响进行了一定的分析。对测量结果进行了讨论。