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搜索结果: 1-7 共查到物理学 Force Microscopy相关记录7条 . 查询时间(0.296 秒)
We adjust the transient dynamics of a piezo-actuated bimorph Atomic Force Microscopy (AFM) probe using a state feedback controller. This approach enables us to adjust the quality factor and the resona...
Various methods of force measurement with the Atomic Force Microscope (AFM) are compared for their ability to accurately determine the tip-surface force from analysis of the nonlinear cantilever motio...
Two type of 180 domain walls on a 115 nm cobalt film are observed by magnetic force microscopy.The surface Neel wall on top of an asymmetric Bloch wall is found inbomogeneous with the width estimated ...
Epitaxial graphene grown on single crystal transition metal surfaces typically exhibits a moiré pattern due to the lattice mismatch between graphene and the underlying metal surface. We use si-multan...
We have characterized a new Magnetic Force Microscopy (MFM) probe based on an iron lled carbon nanotube (FeCNT) using MFM imaging on permalloy (Py) disks saturated in a high magnetic eld perpendic...
Surface electric noise, i.e., the non-uniform distribution of charges and potentials on a surface, poses a great experimental challenge in modern precision force measurements. Such a challenge is enc...
期刊信息 篇名 Inter-Spherulite Voundary Strucrure in Bulk-crystallized Polethylenes Directly Observed by Atomic Force Microscopy 语种 英文 撰写或编译 作者 滕洪祥,史燚,金熹高 第一作者单位 刊物名称 Polymer Journal 页面 2003, 35, 436 出版日期 2...

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