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基于63Ni辐伏同位素电池原型封装可靠性研究
GD3217Y型探测器 灌注 自然老化 加速老化 电学性能
2012/3/28
以加载有63Ni源片的GD3217Y型探测器为处理件，在完成对封装材料的配方选择、灌注工艺、流程的制定并得到具有较好工艺性的灌注条件的基础上，分别对原件、加载不锈钢圆片器件、加载电镀814×107 Bq 63Ni不锈钢圆片器件进行非放、放射灌注封装。在对灌件可靠性进行检测的基础上，着重考察了原件、无/加载不锈钢圆片灌件、加载电镀814×107 Bq 63Ni不锈钢圆片灌...