搜索结果: 1-14 共查到“材料科学 XPS”相关记录14条 . 查询时间(0.156 秒)
近日，中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光单元技术实验室的研究团队在基于XPS的掺镱磷锗酸盐玻璃结构-性能建模方面取得新进展。研究人员为了解决Yb3+掺杂磷酸盐玻璃的“热壅塞效应”，通过O-1s XPS反演获得的结构单元，建立拥有高拟合度，解析Yb3+在锗磷酸的场强和近邻对称性变化的玻璃结构-性能模型，探究该体系玻璃结构与性能之间的关系。该研究为建立“玻璃基因组”提供可靠的支持。相关研究成果...
Purpose: The X-Ray Photoelectron Spectrometry (XPS) and Auger Electrons Spectroscopy (AES) analysis of PVD
coatings were performed for samples, made from cemented carbides, cermets and composite grad...
用等离子体浸没离子注入与沉积(PIIID)复合强化新技术在AISI52100轴承钢基体表面成功合成了硬而耐磨的氮化钛薄膜。膜层表面的化学组成和相结构分别用X射线衍射(XRD)和X射线光电子能谱(XPS)表征;膜层表面的原子力显微镜(AFM)形貌显示出TiN膜结晶完整，结构致密均匀。XRD测试结果表明，TiN在(200)晶面衍射峰最强，具有择优取向。Ti(2p)的XPS谱峰泰勒拟合分析揭示出，Ti(...
XPS法研究高温弱酸性介质中化学镀Ni—Cu—P非晶态合金的腐蚀行为
化学镀 XPS 钝化
2009/9/15
利用ＸＰＳ法研究了化学镀Ｎｉ－Ｃｕ－Ｐ非晶态合金在１４０℃、ＰＨ＝５．０、ＣＯ２饮和Ｎａ２ＳＯ４溶液中片于不同电位下的表面膜组成。结果表明，处于不同电位下的Ｎｉ－Ｃｕ－Ｐ合金表面膜中皆有富Ｐ和富Ｃｕ现象发生，是膜中Ｎｉ选择性溶解的结果。Ｈ２ＰＯ２＾－和ＨＰＯ３＾２－吸附层的存在是合金发生钝化的原因。
XPS研究Ti32Mo在浓盐酸溶液中钝化膜结构
钝化膜 XPS Ti
2009/9/15
用XPS研究了Ti32Mo在70℃、4 mol/L盐酸溶液阳极电位为02 V和09 V时的钝化膜结构和组成.结果表明，钝化膜是由表层和过渡层组成的双层结构.对于阳极电位为02 V的试样，钝化膜富集因子f(Mo)随溅射深度增加，由最外层的175变化到8 nm时的140；而对于阳极电位为09 V的试样，钝化膜富集因子f(Mo)在132～142之间变化.钝化膜的表层可成Ⅰ和Ⅱ两个...
XPS和AES研究ACN复合剂在青铜表面上形成的膜
AMT XPS AES
2009/9/11
采用ＸＰＳ和ＡＥＳ方法，研究了含ＡＭＴ的复合物ＡＣＮ处理青铜和含粉状锈青铜的形成膜中组成及成分，结果表明膜中含有Ｎ，Ｓ，Ｃ，Ｏ和Ｃｕ，其中Ｃｕ元素以＋１价存在，且膜中无Ｃｌ元素。
自悬浮定向流法制备纳米铝粉的DSC−TG和XPS分析
纳米铝粉 热分析 X射线光电子能谱(XPS)
2009/8/25
采用自悬浮定向流法制备金属纳米Al粉。用差示扫描量热−热重法(DSC−TG)和X射线光电子能谱(XPS)分析对其热性能进行研究。研究结果表明：在Ar气流中，新纳米铝粉的熔点为649.7 ℃，熔化焓为3.7 kJ/mol，分别比粗晶铝的熔点(660 ℃)和熔化焓(10.79 kJ/mol)低10.3 ℃和7.09 kJ/mol；在N2气流中，从20 ℃升温到800 ℃时，新纳...
电化学改性不锈钢钝化膜的XPS/SERS研究
电化学改性 不锈钢 钝化膜
2009/2/1
应用X射线光电子能谱(XPS)和表面增强拉曼光谱(SERS)考察18-8不锈钢表面电化学改性钝化膜各层次的化学组成.XPS的结果表明电化学改性处理可使钝化膜老化.膜层中含大量的CrO3,但未检测到CrO42-.在膜的各个层次均发生铬的富集,而在最外层铬的含量并非最大.表明在改性处理过程中,铬优先溶解,部分物种可进入溶液.铁在膜的外层存在Fe(Ⅱ)和Fe(Ⅲ)两种氧化态,同样有利于非晶态结构的形成....
利用XPS及电化学方法研究电镀Cr添加剂的作用机理
镀铬 添加剂 XPS 电化学方法
2008/10/28
利用阴极极化曲线、电化学交流阻抗图谱、微分电容曲线对含有机物的镀Ｃｒ添加剂进行了研究. 提出了添加剂在阴极表面形成一种（Ｒ（ＯＨ）ｎ•ＣｒＯＨ•ＣｒＯ４＋Ｃｒ（ＯＨ）３•ＣｒＯＨ•ＣｒＯ４）（Ｒ代表有机物）荷正电的混合阴极胶体膜, 较好地解释了添加剂对阴极析Ｃｒ的去极化作用, 以及溶液反应电阻增高、微分电容下降、析氢电流降低等现象. 通过对镀层进行表...
O2在U和U-Nb合金表面吸附的XPS研究
合金 表面吸附 X射线光电子谱
2008/10/17
采用X射线光电子能谱(XPS)分析研究了298 K时O2在金属U和U Nb合金清洁表面的原位吸附过程,作为对照还研究了在纯Nb表面的吸附.吸附各阶段XPS图谱的变化揭示了O2在U,Nb和U-Nb合金表面的吸附将导致UO2,NbO和Nb2O5等多种产物形成定量分析表明,O2在U和U-Nb合金表面的饱和吸附量大约分别为45 L和40 L(1 L=L33x10-4Pa.s),而O2在金属Nb上的饱和吸附...
以X射线光电子能谱（XPS）对废轮胎回转窑中试热解炭表面组分进行实验分析，研究热解炭本体与表面的异同，热解温度、热解炭粒径的影响。与商用炭黒比较，废轮胎热解炭本体中含有更多的Zn、Si、S、Mg等杂质元素，各组分与热解温度没有大的相关性；热解炭表面在热解过程中形成了一吸附沉积层，表面层中杂元素的质量分数极低；低于500℃时，热解不完全，吸附沉积物较少。热解炭按粒径存在一定分布，粒度<0.074 m...
OLEDs中CuPc缓冲层作用的AFM与XPS研究
缓冲层CuPc 原子力显微镜（AFM） X射线光电子能谱（XPS）
2007/12/18
摘要 利用AFM对CuPc/ITO样品表面进行扫描，发现其生长较均匀，基本上覆盖了ITO表面的缺陷，且针孔较少。通过样品表面和界面的XPS谱图分析，进一步证实了这一结果，同时发现，CuPc可以抑制ITO中的化学组分向空穴传输层的扩散。有利于器件的性能的改善和寿命的提高。
射频磁控溅射 Ba0.6Sr0.4TiO3薄膜表层的XPS研究
2007/12/13
摘要 用射频磁控溅射在Pt/Ti/SiO2/Si基体上沉积Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)薄膜, 用X射线光电子能谱(XPS)研究BST薄膜表层在常规晶化和快速晶化条件下的结构特征. 结果表明, 常规晶化时, BST薄膜表层约3～5nm厚度内含有非钙钛矿结构的BST, 随着温度的升高该厚度增加; 快速晶化时, 该厚度减薄至1nm内, 随着温度的升高没有明显增加. 元素的化学态分析结果表明, ...